一、應用概述
通常采用ICP MS、AA、XRF等分析儀器對空氣濾膜無機元素含量分析,相比濕法消解,XRF方法具有樣品處理簡單、快速、無損等特點,且能夠分析硅、磷、硫、氯等污染源表征性非金屬元素,X射線熒光光譜法是標準分析方法之一,越來越多的分析工作者傾向采用X射線熒光光譜法分析空氣濾膜中無機元素含量。
常規XRF需要大量標準樣品建立標準曲線,這對于元素種類多、含量范圍寬的PM2.5顆粒物相當困難,標準樣品昂貴且難以獲得,即使有標準樣品,其在元素相關性和含量范圍等方面也難以滿足建立經驗系數法的要求。
北京安科慧生研發的全息基本參數法(Holospec FP 2.0)在欠缺標準樣品情況下,即可對空氣濾膜進行無機元素定量分析,采用少數標準樣品(或定值樣品)即可對系統進行偏差校正和分析質控,達到空氣濾膜中無機元素準確定量分析目的。
二、方法原理
• 單色化激發
全聚焦雙曲面彎晶僅衍射X射線管出射譜中靶材高強特征射線,從而消除了入射譜中散射線背景干擾,將譜線背景值降低2個數量級;
• 聚焦激發