• 單波長聚焦激發技術
- 提升元素檢測靈敏度2個數量級
- HS XRF實現對痕量金屬元素分析能力
• 全息基本參數法（Holospec FP 2.0）
參數法（FP: Fundamental Parameters method）是X射線熒光領域的核心算法和研究重點。安科慧生研發人員歷時十幾年，頒布全息基本參數法-Holospec FP 2.0，將基本參數法的應用提升到前所未有的水平。
三、性能數據
• 檢出限
表1 貴金屬檢出限匯總表 單位：mg/kg
| 貴金屬 | 金（Au） | 銀（Ag） | 鉑（Pt） | 鈀（Pd） | 銠（Rh） |
| 檢出限 | 0.7 | 0.3 | 1.0 | 0.3 | 0.3 |
| 定量限 | 2.0 | 1.0 | 3.0 | 1.0 | 1.0 |
• 重復性
表2 貴金屬精密度匯總表 單位：mg/kg
| 貴金屬 | 鉑（Pt） | 鈀（Pd） |
| 測試1 | 4.98 | 1.85 |
| 測試2 | 5.14 | 1.75 |
| 測試3 | 5.52 | 1.61 |
| 測試4 | 6.11 | 1.57 |
| 測試5 | 4.88 | 1.65 |
| 測試6 | 5.39 | 1.96 |
| 測試7 | 6.48 | 1.75 |
| 標準值 | 5.70 | 1.67 |
| 平均值 | 5.50 | 1.73 |
| RSD | 11% | 8% |
說明： ① 測試樣品為鉑族元素地球化學成分分析標準物質GBW07342
② 樣品測試時間為450秒
• 準確性
表3 貴金屬準確性匯總表
| 貴金屬元素 | 含量范圍（mg/kg） | 相對偏差（RD） |
| 金（Au）、鉑（Pt） | 3~10 | ＜25% |
| 10~100 | ＜15% | |
| ＞100 | ＜10% | |
| 銀（Ag）、鈀（Pd） 銠（Rh） |
2~10 | ＜25% |
| 10~100 | ＜15% | |
| ＞100 | ＜10% |
分別購買金標識為999.9金首飾、金薄片（金含量≥99.5%）和普通金片（金含量≥99%），測試其中雜質元素及其含量，測試結果對比如下：
表4 不同金含量樣品測試結果對比表 單位：mg/kg
| 樣品名稱 | Au | Cu | Zn | Ga | Pb | Mn | Ni | Cr | Fe | Ag | Cd |
| 金首飾 | 99.96% | 17.31 | 113.1 | 170.8 | 16.50 | 21.36 | 12.90 | N.D | N.D. | 27.29 | 115.3 |
| 金薄片 | 99.86% | 39.66 | 457.5 | 83.92 | N.D | 5.25 | N.D. | 74.9 | 664.7 | 5.14 | N.D |
| 金片 | 99.58% | N.D | N.D | 61.48 | 90.40 | 368.6 | 70.94 | 649.7 | 0.2743% | 97.88 | 123.3 |
注：N.D表示未檢出。
針對不同金屬基體鍍貴金屬，可準確測定貴金屬鍍層厚度，測定結果如下：
樣品1：在金屬銅基體上鍍金
| 鍍層貴金屬類型 | 實際厚度 | 測試厚度 |
| 金（Au） | 0.53μm | 0.53μm |
| 金（Au） | 2.10μm | 2.07μm |
| 金（Au） | 4.83μm | 4.72μm |
| 金（Au） | 9.64μm | 9.43μm |
復雜樣品2：在金屬鐵基體上鍍多層金屬從下往上依次鍍鎳銅鎳金銀金，測試結果如下：
| 鍍層金屬類型 | 實際厚度 | 測試厚度 |
| 金（Au）1 | 1.04μm | 1.03μm |
| 銀（Ag） | 2.15μm | 1.98μm |
| 金（Au）2 | 1.02μm | 1.13μm |
| 鎳（Ni）1 | 1.96μm | 2.19μm |
| 銅（Cu） | 1.83μm | 2.12μm |
| 鎳（Ni）2 | 0.95μm | 1.23μm |
譜圖示例（左下圖為樣品測試面放大圖）
四、應用特點
檢測速度快
同步分析貴金屬（金、銀、鉑、鈀、銠等），5~10分鐘完成一個樣品分析；
檢出限低
單波長聚焦激發技術將貴金屬含量檢出限降低至＜1mg/kg級別；
樣品制備簡單
可以檢測固體、粉末、液體、膏狀等樣品，提供樣品制備設備與方法；
現場檢測
儀器便攜性強，可以在大部分場所和環境完成現場物料貴金屬含量檢測；
檢測成本低
單個樣品分析成本10元以內；
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